BM系列超微量分析天平
BM系列自动微量分析天平,是日本AND公司在2011年新在国际市场上推出的精度达1μg,有效分辨率高达2500万份之一的超微量分析天平。22g X 1μg、250gX0.01mg、520gX0.1mg。
梅特勒XP26 微量天平
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Cubis® MCM 手动质量比较仪
新型Cubis®MCM手动质量比较仪是市场上首款组合计量称重功能和流程综合控制以及国际法定度量衡组织(OIML)建议的设备。在国际建议R111-1中,OIML定义了计量和技术要求。主要目的是质量测定的全球统一。特别是制药业要求基于全球监管的更高精确度转化为生产。